溫度試驗(yàn)箱的選擇和試驗(yàn)的確認(rèn)

1試驗(yàn)箱的選擇

根據(jù)試驗(yàn)產(chǎn)品、半成品、電路板的體積、熱慣性等特性，選擇合適的溫度試驗(yàn)箱進(jìn)行試驗(yàn)。進(jìn)行試驗(yàn)的所有物品和工裝的體積應(yīng)不大于試驗(yàn)箱內(nèi)容積的三分之二。

溫度試驗(yàn)箱所能達(dá)到的最高溫度、最低溫度、溫度變化速率等性能，應(yīng)當(dāng)能夠滿足試驗(yàn)曲線的要求。

2試驗(yàn)的確認(rèn)

為了確認(rèn)電子產(chǎn)品、半成品和電路板正確的進(jìn)行了組裝，以及試驗(yàn)溫度是否達(dá)到了設(shè)定要求值，必須有以下確認(rèn)過(guò)程：

1） 溫度試驗(yàn)箱內(nèi)有至少兩個(gè)溫度傳感器，其中一個(gè)放在試件表面；

2） 給溫度試驗(yàn)箱加入正常負(fù)載，在幾次溫度循環(huán)過(guò)程中測(cè)量相同位置的溫度；

3） 檢查高溫和低溫保持階段的測(cè)量真實(shí)性；

4） 計(jì)算升降溫速率的時(shí)候，起始點(diǎn)的選擇應(yīng)在溫度范圍的80%以?xún)?nèi)；

5） 在相同條件下（溫度傳感器位于相同位置），對(duì)同類(lèi)型的試件進(jìn)行相同的實(shí)驗(yàn)，對(duì)照兩者溫度曲線的偏離。試驗(yàn)箱應(yīng)保持相同的溫度變化速率。

6） 檢查新產(chǎn)品引入之后，新的測(cè)試方法是否會(huì)對(duì)同時(shí)進(jìn)行試驗(yàn)的其他產(chǎn)品的溫度曲線造成影響。